與聯華電子之產學合作計畫，利用類神經卷積網路(CNNs)實現光學蝕刻模擬(電路設計圖至光刻及化學侵蝕結果)，其中透過非監督式的學習方式，生成電路的形變量，再透過其建出最後的蝕刻模擬結果，得到電路瑕疵評估的重要資訊，而非單純的圖對圖轉換。